10μs(micro seconds) 신호 측정 및 DAQ

 마이크로초의 신호를 측정 하려면 어떤 장비를 사용해야 될까요? 특정 전압 신호를 받으면서 값이 튀었을 때의 파형을 측정하려고 합니다. 이 때 어느정도 샘플링을 가진 장비를 사용하면 신뢰할만한 값을 받을 수 있을까요? 10μs(micro seconds)의 신호를 측정하는 것으로 예를 들어 보겠습니다. 10X10^-6 =  1/100,000s 입니다. 일상적인 생활에서 보면 정말 빠른 시간이죠. 이 빠른 신호를 측정하기 위해서는 DAQ장비가 초당 몇번 샘플링을 하는지를 우선 확인해야 합니다. 샘플링이란 아날로그 신호가  ADC 칩을 통해서 디지털값으로 변환하는 속도 입니다. 10μs와 같은 빠른 신호를 잡아내기 위해 ADC칩은 측정하고자 하는 신호보다 5~10배 빠른 속도로 아날로그 신호를 측정해야 앨리어싱 현상 없이 신뢰할만한 값을 측정할 수 있습니다. 그러므로 1MS/s = 1X10⁶번 샘플링 스펙을 가지고 있는 장비를 사용하면 됩니다. 

NI 9223 - 4 채널, 1 MS/s, 16 비트 동시 아날로그 입력 모듈

http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/ko/nid/209139

9223 장비는 각각의 채널에 ADC칩을 가지고 있기 때문에 4채널을 동시에 다 사용하여도 원하는 샘플링 속도를 얻을 수 있습니다. 하지만 동시샘플링이 안되는 장비의 경우 ADC 칩을 공유하기 때문에 사용하는 채널에 따라 샘플링이 나뉘게 됩니다. 아래의 장비는 1채널만 사용시 1.25MS을 사용할 수 있지만 여러채널을 사용할 시 1MS에서 계속 나누기 해서 나가게 됩니다. 2채널이면 채널당 0.5MS이 가능한거고, 4채널 사용하면 0.25MS 샘플링이 가능한거죠.

NI PCI-6250 - 16비트, 1 MS/s (다채널), 1.25 MS/s (1 채널) http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/ko/nid/14122

[나이퀴스트 이론과 나이퀴스트 주파수 관련 링크]

http://www.ni.com/white-paper/3016/ko/